A weboldal HTML5, CSS3 és JavaScript elemeket tartalmaz. Amennyiben az oldal nem jelenik meg helyesen kérem frissítse böngészőjét.
A weboldalunkon cookie-kat használunk, hogy a legjobb felhasználói élményt nyújthassuk.

Pécsi Tudományegyetem logo Pécsi Tudományegyetem
Műszaki és Informatikai Kar Pécsi Tudományegyetem
Műszaki és Informatikai Kar

  1. PTE Műszaki és Informatikai Kar
  2. K+F+I
  3. Kutatócsoportok
  4. Szimbolikus Módszerek az Anyagvizsgálatban és Tomográfiában kutatócsoport
Szimbolikus Módszerek az Anyagvizsgálatban és Tomográfiában kutatócsoport

Szimbolikus Módszerek az Anyagvizsgálatban és Tomográfiában kutatócsoport

A kutatócsoport neve:
Szimbolikus Módszerek az Anyagvizsgálatban és Tomográfiában kutatócsoport
Annak az intézetnek a neve, amelynek keretében a kutatócsoport működik:
Informatika és Villamos Intézet, Mérnöki és Smart Technológiák Intézet

A kutatócsoport vezetője, tudományos fokozata
Név Tudományos fokozat Státusz Tanszék
Prof. Dr. Klincsik Mihály PhD egyetemi docens Műszaki Informatika
A kutatócsoport állandó tagjai
Név Tudományos fokozat Státusz Tanszék
Dr. Sári Zoltán PhD egyetemi docens Műszaki Informatika
Vizvári Zoltán doktorjelölt egyetemi tanár Környezetmérnök Tanszék
Dr. Tóth Attila PhD egyetemi docens ÁOK, Élettani Intézet
A kutatócsoport kutatási területe
Kutatócsoportunk a multifrekvenciás elektromos impedancia tomográfiai mérések kiértékeléséhez alakít ki teljesen új megközelítésű szimbolikus módszereket.
A kutatócsoport kutatási célja
A saját fejlesztésű méréstechnikai megoldásaink esetében a jó minőségű adat előállítása mellett fontos a megfelelő, fizikai és akár biológiai szempontból alátámasztott modellek alkalmazása. Kutatócsoportunknak sikerült olyan szimbolikus módszereket előállítani, amik azon túl, hogy matematikai értelemben illeszkednek az adatokhoz, a vizsgált anyag dielektromos tulajdonságainak figyelembevételével, fizikai értelemben is használható információkat (anyagjellemzőket) produkálnak.

A képrekonstrukciós eljárások kapcsán egy teljesen új, szintén saját fejlesztésű numerikus eljáráson alapuló szimbolikus módszert fejlesztünk. Ezzel a módszerrel szimuláció szinten sikerült a szakirodalomban dokumentáltnál nagyobb felbontást és érzékenységet elérnünk. Távlati célunk magasabb dimenzióban is működőképessé tenni szimbolikus méréskiértékelési módszereinket.
Oktatási, Kutatási és Innovációs gráf

Idegen nyelvű tevékenységek
Q1 Cikk
Vizvari, Z. ;Toth, A.;Sari, Z.;Klincsik, M.;Kuljic, B.;Szakall, T.;Odry, A.;Mathe, K.;Szabo, I.;Karadi, Z.et al., Measurement system with real time data converter for conversion of I2S data stream to UDP protocol data, HELIYON6:4Paper: e03760 , 9 p.(2020)

Vizvari, Zoltan ;Sari, Zoltan;Klincsik, Mihaly;Kovacs, Anita;Pal, Jozsef;Karadi, Zoltan;Odry, Peter;Tóth, Attila;Gyorfi, Nina;Odry, Akoset al., Physical Validation of a Residual Impedance Rejection Method during Ultra-Low Frequency Bio-Impedance Spectral Measurements, SENSORS20:17Paper: 4686 , 20 p.(2020)
Q3 Cikk
Vizvári Zoltán, Kiss Tibor, Vér Csaba, Máthé Kálmán, Kuljic Bojan, Henezi Ferenc, Odry Péter A multi-chanel electrical impedance meter based on digital lock-in technology POLLACK PERIODICA: AN INTERNATIONAL JOURNAL FOR ENGINEERING AND INFORMATION SCIENCES 14 : 2 pp. 211-222. , 12 p. (2019)

Vizvari Z., Toth A., Divos F., Klincsik M., Sari Z., Odry P. Non-destructive assessment of living trees by using electric resistive tomography WSEAS TRANSACTIONS ON ENVIRONMENT AND DEVELOPMENT 15 : 19 pp. 455-462. , 8 p. (2019)
Q4 Cikk
Nina, Gyorfi;Lili, Nadasdi;Attila, Toth;Mihaly, Klincsik;Zoltan, Sari;Bojan, Kuljic;Akos, Odry;Peter, Odry;Zoltan, Vizvari, A Modified Cole-Cole Model Used in the Evaluation of Low-Frequency Electrical Impedance Spectroscopy Measurements, INTERNATIONAL JOURNAL OF SYSTEMS APPLICATIONS - ENGINEERING & DEVELOPMENT13:1pp. 195-199. , 5 p.(2019)

Lili Nadasdi, Nina Gyorfi, Attila Toth, Mihaly Klincsik, Zoltan Sari, Bojan Kuljic, Akos Odry, Peter Odry, Zoltan Vizvari An Effective and Robust Self-developed Method in Support of Measuring the Cole-Cole Parameters INTERNATIONAL JOURNAL OF SYSTEMS APPLICATIONS - ENGINEERING & DEVELOPMENT 13 : 1 pp. 183-186. , 5 p. (2019)